幸运赛车pk10|IC测试基本原理和ATE测试向量生成

发布时间:2021-07-27    来源:幸运赛车app注册平台 nbsp;   浏览:90293次

幸运赛车_集成电路测试(IC测试)的主要目的是区分合格的芯片和不合格的芯片,确保产品的质量和可靠性。 随着集成电路的迅速发展,其规模更大,拒绝进一步提高电路的质量和可靠性,集成电路的测试方法也变得更困难。 因此,IC测试的研究与发展,具有最重要的意义。

测试向量是IC测试中最重要的部分,研究其分解方法也越来越重要。 1.IC测试1.1、IC测试原理IC测试是指,根据被测试器件(DUT )的特征和功能,在DUT上获得测试激励(X ),通过测定DUT输入呼叫(Y ),与希望输入进行比较,判别DUT是否符合。 图1的右图是IC测试的基本原理模型。

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根据设备的种类,IC测试可以分为数字电路测试、模拟电路测试、混合电路测试。 数字电路测试是IC测试的基础,除了少数显示模拟IC,如运算放大器、电压比较器、模拟电源等,现代电子系统中使用的IC大部分包括数字信号。

图1IC测试的基本原理模型数字IC测试一般有直流测试、交流测试和功能测试。 1.2 .功能测试功能测试用于检查IC是否能完成设计期望的工作或功能。

功能测试是数字电路测试的明显,模拟IC的实际工作状态,输出一系列有序或随机人群的测试模式,以电路规定的速率对被测试器件有用,在电路输入终端输入的信号与期待模式数据一致其关注点是模式生成的速率、边缘点控制、输出/输入控制、掩模自由选择等。 功能测试包括静态功能测试和动态功能测试。 静态功能测试一般用真值表的方法找出同型(Stuckat )故障。

动态功能测试的目的是以类似电路的工作频率的速度展开测试,在比器件的实际工作频率类似或低的情况下,检查器件的功能和性能。 功能测试一般在ATE (ATE )上展开,ATE测试基于设备设计阶段的仿真建模波形,得到具有简单定时的测试鼓励,对设备的输入进行动态的1.3 .交流参数测试交流(AC )参数测试以时间为单位检查与时间相关的参数,测定实质上电路工作时的时间关系,例如测定工作频率、输出信号输入信号的时间变化关系等。

罕见的测量参数包括下降和下降时间、传输延迟、创建和维持时间、保存时间等。 交流参数最引人注目的是仅次于测试速率和反复性能的精度。

1.4 .直流参数测试直流测试基于欧姆定律,用于确认器件参数的稳态测试方法。 用电压或电流的形式检查电气参数。

直流参数测试还包括识别测试、溢出电流测试、开关电平测试、输入电平测试和电源消耗测试。 直流测试中常用的测试方法是冷却节流孔(FVMI )和整流负载(FIMV ),测试时主要考虑测试精度和测试效率。 通过直流试验可以知道电路的质量。

可以通过识别测试判断IC插槽的开路/短路状况,通过漏电测试从某一方面表现电路的工艺质量,切换电平测试电路的驱动能力和外用噪声能力。 直流测试是IC测试的基础,是检测电路性能和可靠性的基本判断手段。

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